可靠性试验矽普产品进行可靠性试验的目的是找到产品的薄弱点，了解、验证、评价、分析和提高产品的可靠性。不同级别的芯片会面临不同的应用环境，级别越高应用环境越复杂，对应可靠性要求也会更高、更严格。我们的所有产品都经过严格的出厂测试，保障交付给客户的产品均为良品，但为探究产品在经受长期时间损耗的影响，还需要进一步的可靠性测试，模拟实际使用中的一些严苛使用条件对产品的冲击，以评估芯片的寿命及可能存在的风险，改进并提升产品性能。
试验项目不同等级的产品有相应不同的要求，对其进行的可靠性试验的目的是为证明其自身满足对该分类的标准。可靠性试验的试验项目是依据不同级别的产品具体的应用环境来设计，模拟产品在正常使用中的环境因素，验证其功能一致性和耐久性。
| 要求 Requirement等级 Rank | 消费级 Consumption grade | 工业级 Industrial grade | 车规级 Automotive grade |
|---|---|---|---|
| 应用 | 手机、PC等 | 工业控制 | 汽车电子 |
| 温度 | 0~70℃ | -40~85℃ | -40~150℃ |
| 湿度 | 中 | 根据环境 | 0~100% |
| 振动/冲击 | 中 | 较高 | 高 |
| 寿命 | 1~3年 | 5-10年 | 15年 |
| 可靠性 | 中 | 较高 | 高 |
| 出错率 | <3% | <1% | 0 |
消费级| 试验类别 Category | 试验项目 Test Contents | 试验条件 Condition | 试验时间 Time | 样品数量 S.S | 判定标准 Acc/Re | 参考标准 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 环境试验 | HTS (高温存储) | Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
| LTS (低温存储) | Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TC (温度循环) | Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） | 500cycles (1000cycles) | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| PCT (压力蒸煮试验) | Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| HAST （高加速应力试验） | Ta=130℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=42V) | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| uHAST （无偏高加速应力试验） | Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| H3TRB (高温高湿反偏) | Ta=85℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=100V) | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| Precondition (预处理 For SMD only) | Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles | NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
工业级| 试验类别 Category | 试验项目 Test Contents | 试验条件 Condition | 试验时间 Time | 样品数量 S.S | 判定标准 Acc/Re | 参考标准 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 寿命试验 | HTGB (高温栅极偏置) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
| HTRB (高温反向偏压) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| 环境试验 | HTS (高温存储) | Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
| LTS (低温存储) | Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TC (温度循环) | Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） | 500cycles (1000cycles) | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| PCT (压力蒸煮试验) | Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| HAST （高加速应力试验） | Ta=130℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=42V) | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| uHAST （无偏高加速应力试验） | Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| H3TRB (高温高湿反偏) | Ta=85℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=100V) | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| Precondition (预处理 For SMD only) | Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles | NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
车规级| 试验类别 Category | 试验项目 Test Contents | 试验条件 Condition | 试验时间 Time | 样品数量 S.S | 判定标准 Acc/Re | 参考标准 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 寿命试验 | HTGB (高温栅极偏置) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
| HTRB (高温反向偏压) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| 环境试验 | HTS (高温存储) | Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
| LTS (低温存储) | Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TC (温度循环) | Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） | 500cycles (1000cycles) | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| PCT (压力蒸煮试验) | Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| HAST （高加速应力试验） | Ta=130℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=42V) | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| uHAST （无偏高加速应力试验） | Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| H3TRB (高温高湿反偏) | Ta=85℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=100V) | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| Precondition (预处理 For SMD only) | Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 85℃/85%RH ，168hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles | NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
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